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Design_for_Reliability

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发表于 2008-3-27 17:47:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

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 楼主| 发表于 2008-3-27 17:50:39 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2008-3-27 17:57:02 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2008-3-27 17:58:16 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2008-3-27 18:01:10 | 显示全部楼层
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发表于 2008-5-7 13:40:37 | 显示全部楼层
列个目录比较清楚点
发表于 2008-5-7 13:43:33 | 显示全部楼层
又没钱了,不能打成一个包吗?
发表于 2008-5-7 13:45:47 | 显示全部楼层
我来列目录:
Section I: The Stage Gate Process
Authors: Dana Crowe & Alec Feinberg
1. Reliability Science
1.1 Introduction
1.2 Reliability Design: “A Stage Gate Approach”
1.3 Design for Reliability Tools
1.4 Reliability Verification
1.5 Analytical Physics
1.6 The Goal Is Customer Satisfaction
2. Understanding Customer Requirements
2.1 Introduction
2.2 Specified and Unspecified Requirements
2.3 Cost of Reliability
2.4 Benchmarking
2.5 Using Failure Modes and Effects Analysis
to Meet Customer Requirements
3. Design Assessment Reliability Testing
3.1 Introduction
3.2 Four-Corner HALT Testing
3.3 Design Assessment Reliability Testing
at the Hybrid and Component Level
3.4 Summary
4. Design Maturity Testing (DMT)
4.1 Introduction
4.2 Overview of DMT Planning
4.3 DMT Reliability Objectives
4.4 DMT Methods
4.5 Reliability and Sampling Distribution Models
4.6 Sample Size Planning
4.7 Automated Accelerated Test Planning
4.8 DMT Methodology and Guidelines
References
5. Screening and Monotoring
5.1 Introduction
5.2 Achieving Reliability Growth in a Screening Program
5.3 Monitoring and Screening Tools
5.4 Highly Accelerated Stress Screening (HASS)
发表于 2008-5-7 13:47:21 | 显示全部楼层
Section II: Supporting Stage Gate Authors: Carl Bunis & Peter Ersland 6. Semiconductor Process Reliability 6.1 Introduction 6.2 Overview of Semiconductor Process Reliability Studies in the GaAs Industry 6.3 Wafer Level Reliability Tests 6.4 Summary References 7. Analytical Physics 7.1 Introduction 7.2 Physics of Failure 7.3 Analysis Flow 7.4 Failure Analysis Example 7.5 Analytical Techniques References
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