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BIST for ADC

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发表于 2008-3-14 21:35:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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As integrated circuit fabrication techniques advance, a complexsystemcan be integrated on a single chip: namely, a system-on-a-chip(SOC). ASOC consists of many intellectual property (IP) buildingblocks,including Analog-to-digital converters (ADCs) anddigital-to-analogconverters (DACs) which should provide certainbuilt-in self-test(BIST) scheme to minimize the testing cost.Due to the analog nature of ADCs and DACs, digital BIST schemes arenotapplicable. This paper proposes a simple ADC BIST scheme based onaramp test. The proposed BIST scheme is veri ed by simulation witha6-bit pipelined ADC. Simulation results show that the proposed ADCBISTscheme can detect not only catastrophic faults but also someparametricfaults. The total gate count of the proposed BIST circuit isabout 150.

BIST_ADC.pdf

522.48 KB, 下载次数: 157 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2008-3-14 23:43:33 | 显示全部楼层
QQQQQQQQQQQQQQQQQQQ
发表于 2008-3-19 06:13:40 | 显示全部楼层
thanks for your informaion....................
thanks.......................................................
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发表于 2008-3-23 16:55:58 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
发表于 2008-3-23 16:59:02 | 显示全部楼层
kanyikan
发表于 2008-5-18 13:48:15 | 显示全部楼层
急需ADC关于bist方面的资料
头像被屏蔽
发表于 2008-7-24 08:14:20 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
发表于 2008-7-24 17:16:54 | 显示全部楼层
BIST for ADC
发表于 2008-8-25 17:49:59 | 显示全部楼层
谢谢了!
发表于 2008-9-9 15:33:37 | 显示全部楼层
谢谢了!!!
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