有个百思不得其解的latch-up问题

tStone

有个量产快10年的IC在前段时间有客户反馈出现了问题，大体情况是芯片在经过大约1年的使用后才大面积出现异常，此时芯片逻辑出错，同时伴随大电流。但会无规律性的自行恢复，恢复后一切如常。我们分析后认为是不正常的外部电压条件触发了芯片内部的latch-up。但让人很头疼的是：①现象会随机性的消失，即使没有任何操作，只是上电一段时间芯片就有可能恢复正常。②如果把芯片从PCB上卸下来测试，不良会直接消失。所以没办法用热点等手段定位。

最后分析来分析去，觉得最大可能是出现在高压IO的电路与内部低压的电路之间发生了latch-up，但典型的lach-up结构又找不到。故进入死胡同，故求助各位给点意见~

                               
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jojenwong

插眼等大佬

tStone

补充以下对应器件的剖面图：

迷路大脸猫

芯片的老化测试能过?

RF_IClearn

插眼

tStone

   

迷路大脸猫 发表于 2025-12-26 14:20
芯片的老化测试能过?

请问你指的是哪种，是加温加压的寿命试验还是生产阶段的72小时老化？前者不确定，后者是过的。且该款芯片出货量巨大，多年来从来未出现过此次所出现的问题。

omityoung

既然怀疑latuch问题， 有去灌正负电流，做latchup测试吗？

yangnanfrank

别分析了，去做个INGASE实验，看一下电流的位置，很快就确定问题了

tStone

   

yangnanfrank 发表于 2025-12-26 15:20
别分析了，去做个INGASE实验，看一下电流的位置，很快就确定问题了

您好，感谢建议！开始有提到，该芯片问题较为诡异，时好时坏，且变为好品时一切功能正常，包括电流。因此INGAS估计做了也看不出任何差别。

tStone

   

omityoung 发表于 2025-12-26 15:15
既然怀疑latuch问题， 有去灌正负电流，做latchup测试吗？

您好，第三方实验室的latch up测试这颗芯片还没有做过，不过我们有内部一直有尝试模拟芯片的各种异常条件来还原latch-up现象，均无法成功复现。另外，我们有较大信心认为是该IO导致了此次失效，即使报告显示确实为该IO的问题也不过证实我们的推断而已，故没有进行测试。请问您提出做该测试，是否有其它考虑？还望不吝赐教！