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[讨论] 为什么28nm process下PMOS管的阈值电压小于NMOS

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发表于 2015-6-15 14:50:20 | 显示全部楼层 |阅读模式

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众所周知,在较大沟道长度时代(不考虑衬偏效应),NMOS阈值电压Vthn小于PMOS管阈值电压。比如0.5um工艺下Vthn=0.7V,|Vthp|=0.8V;
然而,28nm工艺下,以某TSXX为例,Vthn=0.5V,|Vthp|=0.4V.
请问有大侠能解释下吗?最好从工艺和半导体物理角度解释下,不胜感激!
发表于 2015-6-15 15:52:39 | 显示全部楼层
在这么小的特征尺寸下,决定管子开启的不在只是载流子类型了。你看一下,pmos的最小沟道长度是不是比n管的要小一些?当然这和制程掺杂浓度也有密切关系,搞不好是为专门应用故意调节而制的特殊管子。
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发表于 2015-6-15 17:04:33 | 显示全部楼层
抑制漏电
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 楼主| 发表于 2015-6-15 19:39:10 | 显示全部楼层
回复 2# hehuachangkai
首先谢谢您的回答。在28nm工艺下PMOS和NMOS的最小Length都是30nm。可能是考虑到在core mos下供电电源较低(0.9V甚至更低),为了保证MOS管的Vds有足够的headroom,把Vthn和|Vthp|都降低了。至于为什么PMOS降低的更厉害,本质上是工艺上掺杂降的更低所致;但是对于电路设计有什么好处,一时半会不太理解。
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 楼主| 发表于 2015-6-15 19:43:13 | 显示全部楼层
回复 3# semico_ljj

谢谢您的回答!按照我的不成熟的想法,Vth越大漏电越能抑制漏电(假设|Vgs|不变, |(|Vgs|-|Vth|)|差值随着|Vth|变大而变大)。为什么相反的会抑制漏电??
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发表于 2015-6-16 10:44:38 | 显示全部楼层
因为P管漏电小。最小尺寸不是30nm,是28nm。不过你看到的是30nm。
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 楼主| 发表于 2015-6-16 10:49:48 | 显示全部楼层
回复 6# lwjee

谢谢lwjee,如果是考虑PMOS漏电小,倒是可以理解。不过为什么PMOS的漏电小?(的确是28nm,可能我没说明,仿真时.option scale=0.9)希望不吝赐教!
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发表于 2015-6-16 11:07:55 | 显示全部楼层
让pmos 提速,这样整体速度快。这个很好理解啊
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发表于 2015-6-16 11:18:55 | 显示全部楼层
回复 7# wangzhen_8811

这个应该是不是28nm的特点,其他工艺也是这样。不知道为什么
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发表于 2015-6-16 15:28:10 | 显示全部楼层
本帖最后由 fuyibin 于 2015-6-16 15:33 编辑



首先这个众所周知就有问题,NMOS/PMOS的vth并不是一定符合某种比例
Vthn < Vthp的这种规律也许在180nm时候就不在正确了
对于某个fab,某个process node,都会有自己的目标,包括Ion/Ioff等众多参数
Vth是根据需要来调整的
总的来说,nmos Ion大约是在 pmos的2, 3倍,现在在高阶工艺nmos越来越快,NMOS/PMOS vth的调整也会基于这方面的考虑

BTW, 现在主流process都会有lvt, svt, hvt的vth,所以不用老的思维方式去思考问题,MOSFET的vth是根据具体需求来调整的,没有硬性规定
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