DEM（动态器件匹配）就没有缺点吗？

wrss20080407

最近对连续型sigma delta感兴趣，根据《understanding sigma delta adc》里面的例子，搭出了电路。使用了8个量化电平。仿真时发现问题：同样的电路结构，如果DAC不使用DEM技术，那么整个adc的仿真结果是正确的。如果DAC使用了DEM技术，那么真个adc的enob就只会有6.8个enob。查看各个节点的波形发现，每一级积分器输出的差分电压，都会在某一时刻莫名其妙的突然增大，超过了参看电压范围。


我使用的dem技术，就是《understanding sigma delta adc》这本书中的图6.9。我严重怀疑这种dem技术虽然对dac的匹配有一定的积极影响，但同时也会对整个adc的环路产生不利影响，不知道大家有没有遇到同样的问题。

迷路大脸猫

没有失配的情况下，开不开DEM应该不会有这么大差别，好好检查电路或时序吧。
过采样率较高的话，一般用一阶整形就够了，缺点就是费点数字面积和功耗。实际产品中，DEM几乎是必备的，不然书中也不会花一大章去讲。

nanke

DEM只是决定所选择的电容而已，前仿不跑蒙特卡洛电容容值都是一样的，哪里会有什么影响。是不是你为了DEM额外加了开关，开关又没做好。离散型的开关电容结构自身是有开关的，连续型的不知道怎么样。

wrss20080407

   

nanke 发表于 2025-11-6 11:19
DEM只是决定所选择的电容而已，前仿不跑蒙特卡洛电容容值都是一样的，哪里会有什么影响。是不是你为了DEM额 ...

这个dem是用verilog-a写的，不会有什么延时。

感谢回复，我再检查一下电路