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[求助] 高压阱与低压阱Latch up

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发表于 2021-11-29 10:30:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
88资产
本帖最后由 LZPDZ7 于 2021-11-29 10:32 编辑

!!!哪位大佬讲讲关于高压阱与低压阱容易Latch up的原因,还有I/O与内部电路的,为什么打双环结构,这俩个问题都需要拉大距离,有什么注意的事项吗?

发表于 2021-11-29 11:54:29 | 显示全部楼层
latch_up就是有寄生的P-N-P结构导致泄放,所以要加电位去固定PN结反偏
发表于 2021-11-30 09:52:24 | 显示全部楼层
新人最近在学习 不知道这个解释是否合理:简单理解一个NMOS加PMOS组成的反向器,当输出电压大于VDD+0.7时,PMOS管的输出P-diff(VDD+0.7V)和N阱的VDD和PSUB 形成的寄生BJT会开启,同理当输出电压小于于VSS-0.7时,NMOS管的输出N-diff(VSS-0.7V)和P阱的VSS和NWELL 形成的寄生BJT会开启,然后会导致VDD,VSS之间的势垒越来越小,
因此为了防范Latch up(防止形成有害的寄生btj), 所有直接接到signal Pad的diffusion(OD Injector)都需要LATCH up 防护,1,所有 OD Injector
15um的范围内的N管都需要被P-GUARD ring 包围, P管都需要被Nguard ring包围2,所有的OD injector都需要Double guard ring ,3, OD injector 附近的starp 的 desity要满足一定的要求等等等..... 粗略浅见,有不正确的地方还望指正
 楼主| 发表于 2021-12-1 09:26:00 | 显示全部楼层


gybak 发表于 2021-11-30 09:52
新人最近在学习 不知道这个解释是否合理:简单理解一个NMOS加PMOS组成的反向器,当输出电压大于VDD+0.7时, ...


就是不知道间距如何把握,工艺文档只能参考
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