马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。
您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册
x
随着4G,5G的不断推进,高频段的测试和建模需求变得越来越重要起来。在今年第三届MOS-AK PEKING活动前,应很多朋友的要求,我们特地安排了6月14日一天的射频相关测试与建模培训,主讲人由Dr . Franz Sischka 来担任。地点在北京清华大学的FIT楼, 具体信息请参考MOS-AK 北京。Dr. Franz Sischka是IC-CAP modeling handbook 的作者,也是IC-CAP 软件开发的参与者。 此课程适合器件测试,电路测试,器件模型开发,建模人员,尤其对射频领域有相关需求的朋友。
在2016年举办的MOS-AK会议培训课程上,Dr. Franz Sischka带来了DC测量和建模,很多朋友学到了有用的测量知识,尤其对自热效应测试和仿真的技巧给大家留下了深刻的印象。
今年的RF相关培训主要内容如下:
课程老师简历:
Dr. Franz Sischka
对于上述课程感兴趣的朋友,可以点击MOS-AK 北京报名登记,由于报名数量有限,也请大家抓紧时间,额满为止。 希望大家带着问题来参加此次课程(当然也不限于RF问题),以期获得更大收获。如果报名碰到问题,也可在这里留言。 同时,我们也欢迎大家积极投稿,参与6月15,16日的MOS-AK PEKING 器件模型国际会议,争取上台共享一年来在器件模型研究方面的点点滴滴。凡是投稿录取成功上台演讲的,免6月15-16日活动注册费(包括2次午餐和聚会晚餐)。 |