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[求助] RS485 EFT测试失效问题

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发表于 2013-4-26 22:09:26 | 显示全部楼层 |阅读模式

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各位大师,小弟在对RS485的A、B端口做脉冲群测试时,芯片发生了失效,电源电压从5v跌落到2点几伏特,其他IO端口也同样发生了电压跌落现象,就连栅极输入端口也发生了,重新上电后,芯片正常工作;这是不是RS485 IO端口上的ESD器件引起的?脉冲群信号是不是进入了电源系统而导致芯片latch-up?
     片做破坏性测试后发现:普通的IO端口上的ESD器件的NMOS处烧坏了,而VDD,GND上的ESD并未损坏,这有会是何原因?
     芯片对EFT的防护,是否是通过控制PAD上的ESD或TVS器件的开启窗口进行防护?
     对另一片A、B端口上带有TVS的RS485进行EFT测试时,芯片能正常通讯,但用表笔和示波器在RE、RO、DE等普通端口探测是,芯片有时就会失效,在输出端口尤甚,这是不是因为TVS起到了防护作用,但是级别不够的原因???
     各位帮帮忙吧,这都困扰我快两个月了,实在要疯了!!!
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