问下，In-Rush current到底有什么坏处

icfbicfb · 发表于 2011-3-25 16:04:20

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在power gating的设计中，

一般要求off到on的过程中，所有开关依次打开，比如用dasiy-chain方式，
来避免rush current的一次性太大的冲击，

请问这个到底有啥影响，比如烧毁电路，造成芯片电压波动较大？这只是个瞬间时刻啊，
稳定下来就好了，

还有：on到off的时候，是不是也考虑开关的一些问题，比如是依次关闭还是尽量全关闭，等等

射门靴 · 发表于 2011-3-31 15:50:37

on到off的时候貌似不用管

电压波动大虽然是瞬间的事情，但是别的module在正常工作的时候来那么一下，估计这个chip会挂

yangics · 发表于 2011-3-31 16:25:34

off to on，如果switch全部打开，貌似对地的等效电阻大大的降低，那么电流大大的增加，芯片大大的危险
个人意见，谨慎参考

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