OptiLayer V2025.11最新

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OptiLayer V2025.11最新是薄膜物理学家、计算数学家和镀膜工艺专家的精华之作，采用独特的针式算法，计算速度超快，设计能力强大，迄今，还没有一种薄膜Optilayer不能设计。 OptiLayer软件包支持光学薄膜的全过程：参数-设计-生产-反演分析，包括OptiLayer, OptiChar, OptiRE三部分，另有OptiReOpt动态链接库（DLL）可以增强功能。 OptiLayer是世界光学薄膜设计大赛的优胜软件，近年所有冠军得主使用的软件都是OptiLayer。


OptiLayer 计算制造选项能够评估预期的生产率，并且揭示了哪些膜层对成功的生产比较关键，需要严格控制。
在计算制造试验过程中，可以仿真那些由于沉积工艺造成的典型误差因素。这些因素包括：
• 不稳定的沉积速率，
• 在膜层沉积收尾阶段产生的随机和系统误差（闸门延迟）
• 膜层在沉积仓内的折射率和理论值的偏差
• 与波长相关的折射率偏差
• 沉积层的不均匀性
• 在线测量的噪声影响
• 监控信号的实时波动，
• 监控设备的校准偏差。
OptiLayer薄膜设计主模块

简单易学，设计速度快，膜系优化结果更加理想。

专门针对 WDM Filters，Rugate Filter 的生产分析的选项，可以根据光控装置的随机噪声和系统噪声、沉积率的不稳定性等，来评估和比较不同设计、制备工艺过程。

OptiLayer 是唯一可以准确评估和设计群延迟（GD）和群延迟色散（GDD）特性的薄膜设计软件；薄膜的计算速度达到了 40G/ 秒。

OptiChar：参数拟合

计算膜材料的折射率n和消光系数K，包括金属膜，介质膜，ITO膜等

分析基底材料的n和K

根据膜的透过率和反射率，计算单层膜的厚度

能够从Alilent, Perkin Elmer, Woollam, Hitachi等光谱仪器直接导入光谱数据

能够从Excel表格、TXT文本种选择数据列导入

OptiRE：光学薄膜的工程反演

OptiLayer 有一系列选项， 可以在投产前对 1/4 波长及其整数倍光学厚度的 WDM 膜和窄通带薄膜进行分析。这些计算制造试验模拟了带拐点监控装置的薄膜生产过程，同时还可以评估和比较各种 WDM 设计的生产率。

有兴趣联系1739083603@qq.com