设为首页 收藏本站
在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

搜全文
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › ESD/EOS和latchup(芯片级) › ESD/EOS讨论区 › ESD致寄存器错乱
返回列表 发新帖
查看: 6441|回复: 11

[其它] ESD致寄存器错乱

[复制链接]
发表于 2015-9-1 17:55:11 | 显示全部楼层
回复 1# lihaiqi208
  • air/contact放电后，芯片有没有挂掉，能否找到坏点
  • air/contact放电后，芯片电流会不会增大
  • 如果电流增大了，是什么表现，能否维持的住
  • ESD用的什么样的
问题描述的详细点，大家一起看看
回复 支持 反对

使用道具 举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-9-15 08:07 , Processed in 0.011215 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表