boundary scan 测试原理

ricardoe

   

jinfeier 发表于 2025-1-7 13:35
请教下楼主，如果是数模混合芯片，模拟是顶层，那么数字部分的dft测试也可做boundary scan逻辑吗？
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把模拟的io设置成analog类型，生成boundary scan chain的时候工具会排除掉模拟io，剩下的处理testmode，jtag端口外是可以上boundary scan的

ricardoe

   

jinfeier 发表于 2025-1-15 15:20
把模拟io设置成analog类型？这个怎么设置呢，在DC中操作吗

tessent工具可以通过 set_boundary_scan_port_option -cell_options analog GPIO0 来实现，dc里面怎么操作我就不清楚了