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[求助] 关于MOS工作区域的划分?

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发表于 2014-10-21 14:42:42 | 显示全部楼层 |阅读模式

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有些书上MOS管的工作区域其实只有两种,线性区和饱和区,但是饱和区又分为三类:弱反型区、平方律关系区、速度饱和区。但是又见伯克利BSIM模型中,根据栅端电压和阈值电压的关系分为三部分,远大于阈值电压,是饱和区,远小于阈值电压是弱反型区,接近与阈值电压是transition 区。到底哪种对呢?弱反型区到底是是不是饱和区?
发表于 2014-10-21 17:07:41 | 显示全部楼层
弱反型区是亚阈值区,指数率IV特性。不是饱和区。
随着反型强度增加,管子进入线性区;
再之后进入平方率饱和区;
再然后进入速度饱和,此时沟道长度调制,漏致势垒降低将起主要作用。
弱反型片子成功率不高,一般都只用线性区和平方率饱和区吧。仅为个人愚见。
 楼主| 发表于 2014-10-21 17:27:15 | 显示全部楼层


我觉得你说得对,和BSIM模型基本一致的。
发表于 2014-10-21 17:52:22 | 显示全部楼层
回复 2# taohuachangkai


对于模拟集成电路设计,MOS管总体分为线性区和饱和区。饱和区又可以分为弱反型(亚阈值),强反型(平方率区域)和速度饱和。弱反型管通常用于输入差分对,和低功耗的电路的大部分管子。能够灵活把握好弱反型管子的使用,这才体现出设计者的水平。

zwtang
2014/10/21
发表于 2014-10-21 20:14:24 | 显示全部楼层
回复 4# zwtang


恩,你说的对,记得器件物理上边的描述如下:(MOS衬底接地,栅接Vg,来看沟道形成与否)1、耗尽型:栅极偏压加反了,比如P型衬底,该加正向栅压让电子聚集在介质层界面的,却加成了负栅压,使得势垒更高的一种状态。
2、弱反型:栅极偏压加对了,但大小上仍然小于Vth,导电沟道还没有形成,但存在少量载流子的状态(P型衬底时,靠近介质层的衬底开始变为N型半导体),沟道两边存在电压差时,有微弱电流。电路设计时,只在超低电源电压和超低功耗时才会考虑。国内基本上很少用到。3、强反型:所加栅压足以形成厚的导电沟道的MOS状态,(比如P衬底靠近介质层的界面形成N+重掺杂型半导体)。

   弱反型区域即为亚阈值区;而强反型区域,根据Vds的大小,又分为线性区和饱和区。载流子在横向电场作用下,速度会在某一临街值处发生饱和,这只是发生在饱和区的一种现象,一旦超过此临界值,即偏离平方率。
   也就是说反型的强于弱,与饱和与否之间没有必然的关系,因为一个是纵向电场,一个是横向电场。好像是这样子的,也许只是我们叫得名字不一样吧。
发表于 2017-11-28 16:56:47 | 显示全部楼层
菜鸟一个,学习了
发表于 2017-11-29 10:25:11 | 显示全部楼层
根据栅端电压和阈值电压的关系分为三部分,远大于阈值电压,是饱和区,远小于阈值电压是弱反型区,接近与阈值电压是transition 区
发表于 2020-5-13 13:52:02 | 显示全部楼层


小白想问问为啥线性区(三极管区)会在亚阈区后?不应该在之前吗?
发表于 2020-6-20 15:12:57 | 显示全部楼层


zwtang 发表于 2014-10-21 17:52
回复 2# taohuachangkai


请教唐老师:
      对于工作在亚阈值的管子,想让其工作在饱和区,那么过驱动电压应设置为多少?


发表于 2021-7-30 18:09:00 | 显示全部楼层


taohuachangkai 发表于 2014-10-21 17:07
弱反型区是亚阈值区,指数率IV特性。不是饱和区。
随着反型强度增加,管子进入线性区;
再之后进入平方率 ...


我看sansen书上的第一章,划分饱和区的标准只有Vds>Vgs-Vt,然后再讨论弱反型区、强反型区(平方律区)、速度饱和区(说法上貌似很容易让初学者混淆)。好像也确实没什么区别?只要Vgs<Vt,就是亚阈值区。之后栅极电压增大,线性区和饱和区的区别只在于Vds和过驱动电压之间的关系。
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