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[求助] M0 系列MCU wafer 功能测试原理

回复 10# wrhwindboy

你提到的是wafer test 我的理解是probing test。 就是probing pin直接测试wafer
通常的测试机 probing card上面有512个pin
如果你的同测数是8个 那么你的每个片子也有64个测试pin
测试时间很贵,测试pin够用的情况下 肯定并行输入节省测试时间

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回复 11# lovelaner


   并行输入不是会占用很多引脚吗?这样同测得数量就少了。

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