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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测性设计中扫描路径的应用与分析
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查看: 1629|回复: 6

[资料] ASIC可测性设计中扫描路径的应用与分析

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发表于 2019-2-16 21:05:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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ASIC可测性设计中扫描路径的应用与分析

ASIC可测性设计中扫描路径的应用与分析.pdf

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shancjb
发表于 2019-2-17 05:31:30 | 显示全部楼层
DINGYIGEXIAN
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dx232110
发表于 2019-2-17 13:00:49 | 显示全部楼层
谢谢分享
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dcircuit
发表于 2019-2-17 21:35:05 | 显示全部楼层
thanks
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nick_liu
发表于 2019-3-1 13:09:13 | 显示全部楼层
回复 1# 鲨鱼辣椒123


   GOOD RESOURSE
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shancjb
发表于 2019-3-6 17:41:23 | 显示全部楼层
dingyiiaxian
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mmmmmr77777
发表于 2024-7-10 19:35:40 | 显示全部楼层
看眼
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