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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › DFT Compiler Violation求助
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查看: 3403|回复: 9

[求助] DFT Compiler Violation求助

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x0070481
发表于 2017-7-17 22:43:09 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在insert_dft之后做dft_drc报了很多的C5violation：

Warning: Rule C5 (LS port captured data affected by new capture) was violated

查看之后发现都是在clock gate单元上发生的，数量相当多；
希望有大神帮忙解答一下，手动插入的ICG单元和compile -scan -gate_clock自动产生的ICG单元是否都不能插入扫描链内呢？
这些warning是正常的吗
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x0070481
 楼主| 发表于 2017-7-18 09:12:59 | 显示全部楼层
求助 求助
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mandrake
发表于 2017-7-18 20:16:44 | 显示全部楼层
icg cell上的TE端连接到test_mode上了吗？
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xiaocat85
发表于 2017-7-18 20:54:20 | 显示全部楼层
使用带有scan enable的ICG单元
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x0070481
 楼主| 发表于 2017-7-19 13:37:48 | 显示全部楼层
回复 3# mandrake

用工具自动连接到scan_en端的
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x0070481
 楼主| 发表于 2017-7-19 14:00:38 | 显示全部楼层
回复 4# xiaocat85

调用的ICG单元port是{CLK，EN，TE，Q}；ICG的TE pin已经用工具自动连接scan_en；
clock gate有好几级的ICG级联，会有问题吗
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mandrake
发表于 2017-7-19 22:26:51 | 显示全部楼层
那应该没问题了，这是个正常的warning
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x0070481
 楼主| 发表于 2017-7-20 09:53:13 | 显示全部楼层
回复 7# mandrake

多谢了，还以为是时钟结构有问题。
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swary
发表于 2017-7-28 11:46:11 | 显示全部楼层
回复 8# x0070481

请教一下：调用ICG时候，如你所说scan en链接到ICG的TE上，那另一个EN是不是链接到门控使能信号上？
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x0070481
 楼主| 发表于 2017-7-28 14:38:39 | 显示全部楼层
回复 9# swary


   是的
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