奇怪的芯片问题

silverpuma · 发表于 2016-10-11 15:43:42

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本帖最后由 silverpuma 于 2016-10-17 11:23 编辑

不知道大家有没有遇到过这样的问题：
芯片晶圆测试的时候，良率不错，FUSE之后的基准、偏置电流、时钟等等都在设计范围之内。但是用示波器观察的时候，发现基准电压上面都叠加了一个非常不规则的高频噪声，同时时钟非常不稳定，波形和抖频的时钟波形一样（设计是没有抖频的）。

把CP测试OK的晶圆封装成成品后，FT测试时控制时钟的波动范围在-/+1KHz内，良率瞬间降到10%。

现在找不到原因，郁闷死了。

内部5V电源产生电路

TRAN波形

AC波形

anykatest01 · 发表于 2016-10-11 17:12:57

你的基准，偏置电流，时钟都做了fuse trimming吗？如果你不做fuse trimming，FT测试和CP测试有区别吗？

trimming一般情况下应该只有部分需要trimming。有一部分应该本来就可以的。

bright_pan · 发表于 2016-10-11 17:15:17

而且一般都有个控制位，trimming是否有效，你可以寄存器或者什么控制的。

感觉像是你的trimming控制逻辑在时钟作用下乱来。

kidd_han · 发表于 2016-10-11 17:30:57

测试模式最好不要让power管switching，噪声很大的。

hszgl · 发表于 2016-10-11 18:15:39

估计不是电路内部的问题。示波器观察时，你的探头阻抗是不是匹配？接地是不是良好？如果可以，给个你们测试的原理图和照片，以及测试条件的描述。示波器的应用不比电路设计简单多少，真的。
封装后，由于存在封装应力问题，会有一定的参数漂移。良率下降这么多，无非两个原因：你们的时钟robust不够，你们找的封装厂太烂了。