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查看: 3316|回复: 8

[讨论] mom仿真结果和实测的比对

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发表于 2015-2-1 17:51:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

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对PCB板上的一根长微带线进行了MOM仿真,它的插损的仿真结果和实测结果如下图,仿真出来的结果比实测的要偏大,请坛内大神帮忙分析一下,主要是哪方面的问题导致的,是不是介电常数,电导率和损耗角的一个或几个参数设置不合适造成的?或者还有其他方面造成的?谢谢了!!
comp.bmp
发表于 2015-2-2 10:15:03 | 显示全部楼层
为什么你仿真的是S(4,1),测试的是S(2,1),你的仿真testbench和测试bench分别是怎样的?贴图看一下呢
 楼主| 发表于 2015-2-2 11:49:13 | 显示全部楼层
回复 2# totowo


    仿真的时候我多选了几个port(主要是想看几根线之间的耦合程度,),测试的时候只选了我要看的一根线的插损,因此有S41和S21的差异,这个可以不用去管,反正就是对一根长长的微带线的插损的仿真结果和实测结果,呵呵!
不过我现在基本上知道原因所在了,应该是铜的电导率,板材的介电常数和损耗角参数设置和实际情况不一致造成的,正在问PCB厂家要他们的数据来修正一下后再看一下结果,多谢关注了哈!
发表于 2015-2-2 12:23:13 | 显示全部楼层
我是担心你在仿真的时候,S41意味着别的端口(2、3等)加了匹配负载。如果测试时不是这样的负载就会有差别。


 楼主| 发表于 2015-2-2 14:30:40 | 显示全部楼层
回复 4# totowo


    2、3端口是另外一根微带线的两个口,应该不会有太大的影响吧?等会儿去看一下,多谢提醒啊!
发表于 2015-2-2 20:06:22 | 显示全部楼层
本帖最后由 foxman_1 于 2015-2-2 20:08 编辑

* 端口的阻抗特性差异 (实机测试的端口绝不是50+J*0)即使是已经校正的!
* MOM 的预设是"无限大"的Ground。
* FEM 才是和实际接近的"近似实物PCB"。
*** 最重要的是:仿真出来的整体趋势"近似"实测值的趋势 >92%(就算成功!),如果要到100%!?(人脑和经验值)才是关键!
 楼主| 发表于 2015-2-10 20:23:17 | 显示全部楼层
回复 6# foxman_1
我是PCB上挖出来的,因此不是无限“ground”,不过发现挖的地太小了,也和实际PCB不一致,出来的结果差异很大,但是挖得太大了,内存又不够用,跑了一半就内存爆仓,over!
FEM的话实在是需要更多的内存,搞不定啊!
看来还得去加内存。
发表于 2015-3-13 21:55:14 | 显示全部楼层
就我个人经验来说,首先有限地和无限地不应该有这么大的差距,所以首先不要在这个上面找原因;其次,微带线的损耗主要由三部分构成,导体损耗、介质损耗、辐射损耗,导体损耗就看设置的导电率和铜箔粗糙度了,介质损耗就看DF值了;另外,如果覆盖了油墨,那么它的损耗也要考虑进来。
 楼主| 发表于 2015-3-13 22:39:36 | 显示全部楼层
回复 8# 罗林
嗯,同意楼上的!!
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