求教关于DFT的preview_dft的错误问题

白兰地

1、在做完DFT的设置完后，preview_dft的时候，出现的测试策略不可用的问题：design_vision> preview_dft
Warning: Design 'design_top' contains 1 high-fanout nets. A fanout number of 1000 will be used for delay calculations involving these nets. (TIM-134)

Information: Starting test design rule checking. (TEST-222)
Error: Invalid test protocol. Create a test protocol again. (TEST-1310)
Error: Could not run pre-dft design rule checking. (TEST-1313)
Information: Defining new variable 'hlo_collapse_intermediate_hardware_alts'. (CMD-041)
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2、下面是我对设计的configuration，是在DC综合完后，做以下设置的

set hdlin_enable_rtldrc_info true
remove_attribute  [get_designs -hierarchical  {*}] dont_touch

set test_default_scan_style  multiplexed_flip_flop
set_scan_configuration -style  multiplexed_flip_flop   -clock_mixing mix_clocks -add_lockup true -chain_count 1
set_scan_configuration   -lockup_type latch

set_dft_signal -view spec -type ScanEnable  -port SCAN_EN -active_state 1
set_dft_signal -view existing_dft -type Reset -port RESET  -active_state 0
set_dft_signal -view existing_dft -type ScanClock   -port XTAL1 -timing {45 55}
set_dft_signal -view spec -type  TestMode -port  TEST_MODE  -active_state  1
set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn  -port SCE_P
set_dft_signal -view spec  -type ScanDataOut -port SIO_P
set_scan_path -view spec c0 -scan_data_in SCE_P -scan_data_out SIO_P

set test_default_delay        0
set test_default_bidir_delay   0
set test_default_strobe      40
set test_default_period       100.0
set test_default_strobe_delay     1.0

compile -scan

preview_dft

3、由于是第一次做DFT，所以有很多疑问，也有很多理解不到位的，希望各位大神指教，嘿嘿，谢谢大家啦！！！

首先，上面所说的 Invalid test protocol.是不是就是指我的scan  dft  和test  configuration的所有设置。

其次，set_dft_signal -view spec -type ScanEnable  -port SCAN_EN -active_state 1命令里面的view设置会不会影响扫描链的生成，我将原来预留给测试用的端口设置为existing的，复用其他IO端口的设置为spec，不过提示时钟也要设置为spec。我们复用其他IO端口的时候，对端口有什么特殊的要求吗？
还有里面的active_state我们是根据什么进行设定的呢？

下面是我的模块的顶层端口

zero_0

加上 create_test_protocol

白兰地

回复 2# zero_0

好的，谢谢！！！为什么结果出来，我里面没有扫描链
****************************************
Preview_dft report
For    : 'Insert_dft' command
Design : design_top
Version: B-2008.09
Date   : Tue Mar 11 04:14:57 2014
****************************************

Number of chains: 0
Scan methodology: full_scan
Scan style: multiplexed_flip_flop
Clock domain: mix_clocks
Scan enable: SCAN_EN (no hookup pin)


No chains



************ Test Point Plan Report ************
Total number of test points  : 0
Number of Autofix test points: 0
Number of Wrapper test points: 0
Number of test modes         : 0
Number of test point enables : 0
Number of data sources       : 0
Number of data sinks         : 0
**************************************************

Dft signals:
TestMode: TEST_MODE (no hookup pin)
1

而且dft_drc出来有很多错误：

zero_0

加上 autofix
看 <<TetraMAX on-line help>>

白兰地

回复 4# zero_0

  好的，谢谢！！
我将TEST_MODE 和XTAL1设置为TestData ，然后set_autofix_configuration 设置失败，请问一下，这边的控制信号，应该是由测试的控制信号控制的？

set_dft_signal  -view existing_dft -type TestData    -port  TEST_MODE

set_dft_signal -view spec -type TestData    -port  XTAL1


design_vision> set_autofix_configuration -type clock -control_signal TEST_MODE -test_data  XTAL1
Discarded Autofix configuration specifications.
0

zero_0

回复 5# 白兰地


    TEST_MODE 不要设成 TestData, autofix 是用它去 control 其他 signal
    RESET 需要 autofix, 用上 -active

白兰地

回复 6# zero_0

    很谢谢您的回答！！
   现在set_autofix_configuration 设置成功，就是不知道TEST_MODE  为什么一定要设置成spec才行，现在preview_dft的结果也是正确的。


但是dft_drc的出现的错误貌似没有自动修复，是不是因为我里面的宏模块没有做特殊的处理：

1、出现在flash和osc上面的错误
（fzu8051_top_inst/FLASH_32KB (Cell fzu8051_top_inst/FLASH_32KB (PF32K09E) is unknown (black box) because functionality for output pin VDD is bad or incomplete.) ）

2、出现在clk和reset上面的四类错误
  D1：Uncontrollable clock input of flip-flop
  D8：Clock not able to capture
  D10：Clock feeding data input
  D11：Clock feeding both clock and data input


下面是报错寄存器上面时钟端口出现的错误：

白兰地

回复 6# zero_0


   谢谢您的回答！！刚才发的帖子给没了。
按照您的提示，已经设置成功，不过TEST_MODE的view一定要为spec，才能设置，不知道什么原理，现在preview_dft的结果也正确。


就是drc_dft依然出现错误就是了，clk和reset上面，不知道是不是我又两个宏模块flash和osc没有进行处理的缘故。


1、宏模块所报的错误：RING_OSC_24M (Cell RING_OSC_24M (ringosc_rc) is unknown (black box) because functionality for output pin VDD is bad or incomplete.)


2、clk和reset出现了好几类的错误。

zero_0

回复 8# 白兰地


    我是这样理解的，在此之前这些 port 没有用在 DFT mode, 就用 spec, 如果在 DFT mode 已经使用的话，就用 exist
    关于 hard macro 的话可以修改 RTL 去 bypass. 使用 command 的办法我没有找到，如果你有找到并尝试成功的话请告知我。
    set_dft_configuration -fix_*

    其实 google 上能搜到很多资料，而百度却是很缺乏的

白兰地

回复 9# zero_0


   恩恩，好的，谢谢您！！嘿嘿
   我把自动修复都使能还是不行，我去试试吧宏模块处理一下，看行不行。