朋友们，有提高DFT coverage的好办法没

bluray2005 · 发表于 2012-3-12 23:47:40

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不到90%，太低了点，代码肯定没法改，好像ATPG untestable (AU), Not detected (ND)太多了，大家有何良策啊，谢谢

qinlongdwtdx · 发表于 2012-3-13 11:02:14

autofix 可以吗？

jacky.sun · 发表于 2012-3-13 15:05:05

是有点低，最好的办法是修改代码，肯定是设计代码的时候没考虑DFT的功能。

yinchyang · 发表于 2012-3-13 23:33:11

通常test coverage比较低由以下原因造成，当然假定你的设计比较规范：
1。Memory比较多，而且没有做bypass logic
2. IP比较多，也没有做bypass logic
3.pad controller有很多分支，在测试模式下无法全测到
楼主说代码没法改，估计是主体逻辑设计没法改，建议把memory的bypass logic加上，增加几个点还是可能的。

bluray2005 · 发表于 2012-3-13 23:50:37

通常test coverage比较低由以下原因造成，当然假定你的设计比较规范：
1。Memory比较多，而且没有做bypas ...
yinchyang 发表于 2012-3-13 23:33

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谢谢啊。。。你说的3点全中。。。呵呵，不过memory有bist控制模块，还有不少fifo...另外bypass logic 没做过，能给个实例吗，多谢

SKILLER · 发表于 2012-3-15 10:52:11

回复 4# yinchyang

bypass logic具体我也没有做过，想了解了解！

liky998 · 发表于 2012-3-15 13:49:30

我理解memory的bypass logic就是一套用于测试的总线，当选中的时候，可以通过
这套总线对memory进行读写的测试?

通常test coverage比较低由以下原因造成，当然假定你的设计比较规范：
1。Memory比较多，而且没有做bypas ...
yinchyang 发表于 2012-3-13 23:33

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bluray2005 · 发表于 2012-3-15 16:41:25

我理解memory的bypass logic就是一套用于测试的总线，当选中的时候，可以通过
这套总线对memory进行读写的 ...
liky998 发表于 2012-3-15 13:49

登录/注册后可看大图

那不就是BIST模块吗，这个一般来说对于MEMORY是必须的

cqbandaoti · 发表于 2012-3-15 16:57:16

学习学习了

jarodz · 发表于 2012-3-15 22:09:40

bypass 顧名思義就是把 input bypass 到 output 阿，
這樣做可以增加 observability and controlabilty 。
只要可以 control input pattern 和觀察結果就是可以測。

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