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EETOP诚邀模拟IC相关培训讲师 创芯人才网--重磅上线啦!
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[资料] 夹具TRL 校准经典文献

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发表于 2011-12-23 17:45:14 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 hustpoly 于 2011-12-23 17:48 编辑

TRL校准经典ieee文献,分享下。Thru-Reflect-Line_An Improved Technique for Calibrating the Dual Six-Port Automatic Network Analyzer
abbr_9be77d8b557f7f23fe0c449df6d016af.pdf (728 KB, 下载次数: 317 )
 楼主| 发表于 2011-12-23 17:48:32 | 显示全部楼层
文件名为:
Thru-Reflect-Line_An Improved Technique for Calibrating the Dual Six-Port Automatic Network Analyzer
发表于 2011-12-23 19:52:03 | 显示全部楼层
谢谢了
发表于 2012-6-1 21:16:58 | 显示全部楼层
謝謝了
发表于 2012-6-2 10:13:09 | 显示全部楼层
VERY GOOD GOOD
发表于 2012-6-3 22:08:23 | 显示全部楼层
回复 1# hustpoly

确实是非常经典的文章
发表于 2012-12-30 15:32:03 | 显示全部楼层
比较老的资料了,这里面的公式推导,我到现在为止,都看不懂。
发表于 2013-4-20 11:36:28 | 显示全部楼层
曾见过有人引用,但没有细读,从其它类似的文章来看,就是S参数的信号流图,由于方程个数多于未知数的个数,因此,可用多余的方程解出reflection的那个校准件,也就是说reflection的校准件不用太精确,只要用的是同一个就行,具体是什么数值,解方程时会解出来。这种校准方法的最大好处就是对校准件(cal kit)要求不好,不用花太多钱就能得到很好的精度。这与OSLT校准相比,是一个很大的好处,前一段时间,坏了一个校准件,为了配上一件,Agilent就要3000美刀。换成TRL只要几块钱做一段传输线就可以了。
发表于 2015-4-29 16:05:12 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2015-10-5 16:16:15 | 显示全部楼层
看看。。。。。。。。。。。。。。。
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