《超大规模集成电路测试--数字、存储器和混合信号系统

greaquer_w · 发表于 2011-4-15 11:59:18

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中文書名：《超大规模集成电路测试--数字、存储器和混合信号系统》
英文書名：《Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits》

英文原版：《Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits》
经典好书，分为三部分
测试概率；测试方法；可测试设计。

greaquer_w · 发表于 2011-4-15 12:37:01

文件过大，只能分解。将Part A，B，C 解压后放在一起方可生成pdf文件。

greaquer_w · 发表于 2011-4-15 12:46:29

因是新手，与另外一个帖子发重了，见谅~

joarcxopner · 发表于 2011-4-15 18:14:20

非常感谢

joarcxopner · 发表于 2011-4-15 20:17:10

文件不全啊。。。。

greaquer_w · 发表于 2011-4-18 18:09:06

怎么不全，ABC三部分啊

大飞 · 发表于 2011-7-2 13:45:35

回复 5# joarcxopner

全的，三个包分别解开

szuer · 发表于 2011-7-3 22:12:19

下载下来看看

ituluck · 发表于 2011-7-4 14:57:25

这个是好东西，看看

ituluck · 发表于 2011-7-4 15:07:48

这个是好东西，看看

[资料] 《超大规模集成电路测试--数字、存储器和混合信号系统