scan at-speed, mbist at-speed, 和 jtag SDC

X6J6P6 · 发表于 2012-2-15 20:55:24

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scan at-speed, mbist at-speed, 和 jtag SDC
大家好，各位牛人帮忙解释一下上面的名词，小弟对测试一点也不懂啊，谢谢了！

X6J6P6 · 发表于 2012-2-18 22:56:09

牛人说句话啊！

陈涛 · 发表于 2012-2-19 10:36:35

scan at-speed ： scan capture mode时的测试速度与function时速度相同
mbist at-speed ：与上面的类似
jtag SDC ：jtag 的约束 ???

X6J6P6 · 发表于 2012-2-19 23:12:32

回复 3# 陈涛

谢谢陈老大。

チョウ · 发表于 2012-12-6 12:13:28

谈谈我个人的看法吧。

scan at-speed : 是测的迟延故障，检测电路中有没有时序上的违反
mbist at-speed：是测的MEM的interface周围的电路有没有时序违反，也就是说，能不能按实际设计的时钟写和读
JTAG：boundary scan

仙福永享 · 发表于 2013-6-24 11:02:43

at_speed 模式，主要是用来测试transition的

j81mm · 发表于 2018-7-14 20:19:24

JTAG : boundary scan or debug system

henrylee0530 · 发表于 2021-4-9 14:52:56

thanks

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