求助高精度SDM测试遇到的前级驱动电路问题

gambro

本人在测试流片回来的ADC时遇到一些小问题，按照设计指标，ADC带宽32k fs=2.048M。利用动态分析仪提供给输入信号，经过单端转差分加低通滤波后直接驱动ADC，测试后发现噪底符合设计要求，大概在-140dBFs/sqrt(Hz)。但是输出信号的2到6次谐波非常高，跟基波的比值大约为-90dB。于是排查输入信号质量 发现动态分析仪自己测量自己的source端就会出现很高的谐波。于是尝试利用一个低通滤波器或者带通滤波器将二次谐波项滤除，但是由于输入信号频率很低 大概在500Hz附近 设计时发现如果要保证噪声的话需要很大的滤波电容 从而导致op也引入了额外谐波。现在不知道是需要继续沿着对动态分析仪输入滤波的思路 还是采用自己利用DDS+DAC的方案去实现一个高精度信号源，第二个方案没有尝试过 可能周期略长 而且无法评估最后滤出来的信号是否符合我噪底的要求，恳亲各位大佬指点一下我操作的问题或者后面能尝试的方向（图为动态分析仪自己信号的谐波）