比较器失调和温度有关系吗

fightshan · 发表于 5 小时前

仿真结果是看不出来有什么关系的，我猜是晶体管的离散模型不带温度这个变量，至少我用的工艺是这样，有没有有经验的大哥说一下有什么经验，我在温度传感器中做一个ADC，这个ADC有比较器，比较器的offset如果随温度变化的话，温度的K值会不线性，本身存在offset这个我并不关心，因为固定的offset很好处理，我担心的是offset随温度变化。

lynker · 发表于 4 小时前

最近研究带隙基准的温漂，发现运放MC仿真等效输入失调几乎不随温度变化，确实是不带温度这个变量。但你可以假设失调是W*L贡献的，这样就与温度挂钩了，目前我们是这样处理的。或者做成Auto zero或者chopper，消除失调。

kwankwaner · 发表于 2 小时前

offset当然随温度变化，不知你怎么仿真的

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