比较器失调和温度有关系吗

fightshan · 发表于 2025-3-10 15:41:53

仿真结果是看不出来有什么关系的，我猜是晶体管的离散模型不带温度这个变量，至少我用的工艺是这样，有没有有经验的大哥说一下有什么经验，我在温度传感器中做一个ADC，这个ADC有比较器，比较器的offset如果随温度变化的话，温度的K值会不线性，本身存在offset这个我并不关心，因为固定的offset很好处理，我担心的是offset随温度变化。

lynker · 发表于 2025-3-10 16:52:23

最近研究带隙基准的温漂，发现运放MC仿真等效输入失调几乎不随温度变化，确实是不带温度这个变量。但你可以假设失调是W*L贡献的，这样就与温度挂钩了，目前我们是这样处理的。或者做成Auto zero或者chopper，消除失调。

kwankwaner · 发表于 2025-3-10 18:14:14

offset当然随温度变化，不知你怎么仿真的

fightshan · 发表于 2025-3-11 10:22:30

kwankwaner 发表于 2025-3-10 18:14
offset当然随温度变化，不知你怎么仿真的

我就是在蒙特卡洛仿真的时候设置不同的温度，仿真结果显示不同的温度下失配的均值，3西格玛值都几乎一样，我仿真的方法有没有什么问题？

fightshan · 发表于 2025-3-11 10:27:37

lynker 发表于 2025-3-10 16:52
最近研究带隙基准的温漂，发现运放MC仿真等效输入失调几乎不随温度变化，确实是不带温度这个变量。但你可以 ...

失调可以通过一些办法消除，但是我这里对失调的绝对值不care，而我又对面积啊啥的特别关心，能不整这些东西最好别整，所以如果foundry在不同的温度下采集了离散模型，那么我应该可以通过仿真观察到这个offset变化的到底有多大，如果不大，比如-20℃到100℃，offset只变化0.2mV，那我可以容忍，如果变化2mV，那我得想办法消除。