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[讨论] vco中摆幅过大会导致相噪恶化的原因?

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发表于 昨天 09:55 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问一下各位大佬,在电压偏置型vco设计中,会有相噪随着摆幅的增大,先变好后恶化的现象。相噪随着摆幅的增大而变好的现象可以用lesson公式解释,但为什么继续增大摆幅噪声会恶化?

针对这个问题我查阅了相关资料,给出了两个解释,一个是非线性效应,当摆幅增大到一定程度后,mos管进入线性区,这会导致信号的非线性失真,从而使相噪恶化。另一个是谐振腔的Q值,摆幅过大会降低谐振腔的Q值,从而使得相噪恶化。请问这两种解释哪一个是合理的?
对于第一点,影响相噪是在波形的过零点附近,不是波峰和波谷附近,在摆幅位于过零点附近时,两个管子都处于饱和区而非线性区,这与第一点有点矛盾,不清楚我的理解哪里有问题?对于第二点,如何仿真谐振腔的Q值?以及如何仿真不同摆幅对谐振腔Q值的影响?
如果上述两个解释有问题,那么正确的解释是什么?
发表于 昨天 11:41 | 显示全部楼层
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发表于 昨天 17:56 | 显示全部楼层
这个我之前也遇到过,我感觉是摆幅过大进入深线性区了,导通那个mos管等价于几十欧姆的小电阻,降低了Tank的Q值
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