membist 基本流程简介

兵临城下

求大神解释一下：

   
    最近看membist有以下疑惑：

   1.  membist是寄存器内建测试， 外部输入特殊指令，硬件自动产生测试激励，自动完成测试比对。
        
      a. 如果进入membist 模式，是不是需要像scan_mode一样，需要切到membist_mode下啊？  流程中没有看到membist mode描述呢
      b. 如何启动自测试啊，JTAG端口需要灌入特殊pattern ？ 还是切换到membist mode就自动启动自测试？

  期待大神给予帮助，谢谢！

zhiwenhao

pattern里包含了，自动进行配置开始测试，收集结果。

兵临城下

zhiwenhao 发表于 2024-9-24 10:23
pattern里包含了，自动进行配置开始测试，收集结果。

我这样理解你看对不对； 通过jtag接口灌入特殊pattern指令，然后通过监测tdo，确认mem测试是否pass or fail. 正常jtag的功能和membist功能的切换是在生成的mem logic根据接收的指令进行切换的？

John_Zhang

通过JTAG 口灌入特殊的激励，待测试完成，再把状态读出来

zhiwenhao

兵临城下 发表于 2024-9-24 11:02
我这样理解你看对不对； 通过jtag接口灌入特殊pattern指令，然后通过监测tdo，确认mem测试是否pass or fa ...

正常JTAG是指啥？如果是rtl已经有的设计，如果是端口复用的需要自己设置模式进行区分，如果不复用，dft是单独的jtag端口，那就不需要设置模式。

兵临城下

zhiwenhao 发表于 2024-9-24 14:16
正常JTAG是指啥？如果是rtl已经有的设计，如果是端口复用的需要自己设置模式进行区分，如果不复用，dft是 ...

感谢您的回复！


举个例子，soc中，正常jtag接口是用来进行debug用的，现在复用jtag进行membist使用，如何对jtag 和 membist功能进行切换？  tessent没有介绍呢

例如，scan chain模式 ，可以使用scan_mode 可以进行功能模式和dft模式进行切换，功能pin和scan pin进行切换。

zhiwenhao

端口复用的话要自己修改设计，可以在tessent里用命令增加与门，mux一类的，再连线。jtag的输入要一驱二，一路去debug的tap，一路去dft的tap。自己创建个port，随便取名字，比如dft_mode一类的，dft那一路上的tdi与上dft_mode给到dft的tap，dft的tdo加mux，mux的sel端接dft_mode进行选择是debug的还是dft的tap的tdo输出。

zhiwenhao

兵临城下 发表于 2024-9-24 14:27
感谢您的回复！

和scan_mode一样，scan mode不也是自己手动设置的么？也不是tessent自动的

兵临城下

zhiwenhao 发表于 2024-9-24 16:59
端口复用的话要自己修改设计，可以在tessent里用命令增加与门，mux一类的，再连线。jtag的输入要一驱二，一 ...

十分感谢，明白了。

  再请教个问题，数模芯片，没有jtag逻辑，如何对mem做membist啊？

zhiwenhao

兵临城下 发表于 2024-9-24 17:06
十分感谢，明白了。

  再请教个问题，数模芯片，没有jtag逻辑，如何对mem做membist啊？

有端口就行，tessent会生成自己tap和dft控制相关逻辑，如果没有jtag端口，可以和别的数字端口复用