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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于IEEE1149．4的测试方法研究
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楼主: lemomn

基于IEEE1149．4的测试方法研究

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jcchan
发表于 2008-7-10 13:15:49 | 显示全部楼层
很好的資料，感謝大大無私的分享。
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yyzguy001
发表于 2009-4-18 15:36:12 | 显示全部楼层

eer

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imagetest
发表于 2009-4-19 04:41:52 | 显示全部楼层
谢谢楼主共享，
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yizhibi01022
发表于 2010-6-29 20:38:48 | 显示全部楼层
谢谢分享
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stonenaughty
发表于 2010-12-14 15:12:45 | 显示全部楼层
看不太懂，但還是謝謝啦
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peter_wx
发表于 2010-12-14 17:10:48 | 显示全部楼层
good share
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linshengliu
发表于 2011-2-14 20:37:30 | 显示全部楼层
看看再说
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no1bigdog
发表于 2011-6-19 10:28:39 | 显示全部楼层
下来看看
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zhhwang205
发表于 2012-3-29 11:06:43 | 显示全部楼层
kankan xian
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