在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 714|回复: 7

[求助] 求书 Ageing of Integrated Circuits Causes, Effects and Mitigation Techniques

[复制链接]
发表于 2023-8-21 18:11:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
求书。


Ageing of Integrated Circuits: Causes, Effects and Mitigation Techniques | SpringerLink


Ageing of Integrated Circuits
[size=1.25]Causes, Effects and Mitigation Techniques
Editors:
  • Describes in detail the physical mechanisms of CMOS ageing
  • Provides an in-depth discussion on the impact of ageing on the performance and reliability of integrated circuits
  • Presents state-of-the art synthesis algorithms for ageing resilient digital systems
  • Introduces application-dependent techniques to mitigate the effects of aging
  • Discusses the design and implementation of on-chip aging monitoring sensors for aging-adaptable systems
  • Includes more than 200 references on state-of-art research in this area, providing direction for further reading





发表于 2023-8-21 19:05:11 | 显示全部楼层
你看看是不是

vdoc.pub_ageing-of-integrated-circuits-causes-effects-and-mitigation-techniques.pdf

10.58 MB, 下载次数: 78 , 下载积分: 资产 -4 信元, 下载支出 4 信元

发表于 2023-8-21 21:08:09 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2023-8-21 21:58:49 | 显示全部楼层
多谢分享。。
 楼主| 发表于 2023-8-22 08:28:06 | 显示全部楼层
多谢分享!
发表于 2023-8-22 12:25:52 | 显示全部楼层
Thanks
发表于 2023-8-22 20:23:42 | 显示全部楼层
kkkkkkkkkkkk
发表于 2023-8-27 15:14:13 | 显示全部楼层
thanks
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-5-4 10:27 , Processed in 0.033678 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表