建议单独分一个测试子模块

WinStyle · 发表于 2023-6-6 11:31:17

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【个人想法，如感幼稚，呵呵就可】当前#IC测试与可测性#模块，将DFT与ATE放在一起，虽然这两个有一定的相关性，但是感觉实际工作中，DFT偏设计， ATE偏应用、做这两个工作的工程师虽有一定的交集，也可能只限于向量调试阶段，对于芯片测试来说，远不是调试向量这么单一。建议区分开子模块，将DFT与ATE分开，这样大家能够在自己所处的领域去讨论问题。

dmf336 · 发表于 2023-7-28 14:25:02

我觉得你的建议就要很好啊，确实ATE可以分开的

蕾兹曼 · 发表于 2024-1-19 09:08:32

确实可以分开，但是现在问的基本都是DFT的，少有ATE，暂时可以不分开

eda2008 · 发表于 2024-1-20 09:39:35

3楼说的对，关联ATE的问题太少了

[讨论] 建议单独分一个测试子模块

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