I2C 作为scan in 端口，导致 stuck at 测试速度限制

小飞侠david · 发表于 2023-5-15 16:56:34

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新人学习，使用I2C 作为scan in 端口，导致 stuck at 测试速度限制在1M以下，是不是一般不用I2C作为scan端口，请各位不吝赐教。~~~

RayCing · 发表于 2023-5-17 09:38:53

chip级I2C可以作为scan_in，一般来说，能够被复用的chip级port(in或bidir)均可作为scan_in，跟端口功能没太大关系，至于可支持的scan clock频率，由IO PAD cell决定

小飞侠david · 发表于 2023-5-17 10:32:31

RayCing 发表于 2023-5-17 09:38
chip级I2C可以作为scan_in，一般来说，能够被复用的chip级port(in或bidir)均可作为scan_in，跟端口功能没太 ...

I2C 的通信协议，速度最高也才是1MHz，导致现在进行测试频率最高也就是1M，请问如果想提高这个速度，是否可以按照您说的可以通过修改IO PAD CELL来实现？

RayCing · 发表于 2023-5-17 10:47:10

小飞侠david 发表于 2023-5-17 10:32
I2C 的通信协议，速度最高也才是1MHz，导致现在进行测试频率最高也就是1M，请问如果想提高这个速度，是 ...

I2C port是被复用的，在function mode下，按照正常工作频率就行；在scan mode下，按照scan的工作频率就行，二者不冲突。不管哪种mode，只要实际频率在IO pad cell可支持的范围内就OK（具体得看IO datasheet和工艺，一般IO pad cell支持20~40MHz应该没问题）。

小飞侠david · 发表于 2023-5-17 10:56:02

哦哦了解谢谢

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