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[求助] Latch-up测试规范求助

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发表于 2023-4-17 15:05:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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我对Latch-up的测试规范有一点不懂的地方想求助。

对输出pin进行测试时,需要对输出的所有状态都进行测试吗?

我在网上搜的很多资料都说,测试时要把所有输入pin和双向pin都置为高电平或者低电平。

但是有些输出pin是只有在特定的输入组合时才会输出高电平的,按照这些资料的话不是只能对输出pin的低电平状态进行测试吗?
还是说只是测一个输出状态就可以了?

烦请各位帮忙解答疑问,谢谢!



发表于 2023-4-19 09:49:19 | 显示全部楼层
输出Pin是浮空的。
发表于 2023-4-20 14:58:23 | 显示全部楼层
LU-IT时要求,针对所输入或双向IO口,要置于固定状态(High or LOW),输出OP口,测试时需要Floating处理,
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