在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 859|回复: 2

[求助] Latch-up测试规范求助

[复制链接]
发表于 2023-4-17 15:05:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
我对Latch-up的测试规范有一点不懂的地方想求助。

对输出pin进行测试时,需要对输出的所有状态都进行测试吗?

我在网上搜的很多资料都说,测试时要把所有输入pin和双向pin都置为高电平或者低电平。

但是有些输出pin是只有在特定的输入组合时才会输出高电平的,按照这些资料的话不是只能对输出pin的低电平状态进行测试吗?
还是说只是测一个输出状态就可以了?

烦请各位帮忙解答疑问,谢谢!



发表于 2023-4-19 09:49:19 | 显示全部楼层
输出Pin是浮空的。
发表于 2023-4-20 14:58:23 | 显示全部楼层
LU-IT时要求,针对所输入或双向IO口,要置于固定状态(High or LOW),输出OP口,测试时需要Floating处理,
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 01:24 , Processed in 0.015654 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表