新人求问，一款数模混合的IC芯片ATE测试项一般有多少个？

diamondmin · 发表于 2023-1-4 09:36:06

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如题，在测试时需要把每个pin脚的VOL等参数列出一个测试项吗？如果pin脚特别的情况，测试项岂不是会很复杂？有没有简便的合并方法?

RayCing · 发表于 2023-1-4 13:42:56

机台的测试头一般是每个channel有各自独立的测试单元，只要channel够用，所有pin的参数可以并行测出，也就是说，写一个测试项可以将所有pin的参数同时测出

diamondmin · 发表于 2023-1-4 14:52:27

RayCing 发表于 2023-1-4 13:42
机台的测试头一般是每个channel有各自独立的测试单元，只要channel够用，所有pin的参数可以并行测出，也就 ...

机台端肯定出数据问题不大，但是分各个pin吐出了stdf，在分析数据的时候，如果VOL、VOH各有180个pin的数据，处理数据（人工）都有就麻烦了，即使是工具来操作也会变得复杂。想问问大佬有没有从分析数据方面有考虑对吐出数据做优化的经验

RayCing · 发表于 2023-1-4 15:43:52

diamondmin 发表于 2023-1-4 14:52
机台端肯定出数据问题不大，但是分各个pin吐出了stdf，在分析数据的时候，如果VOL、VOH各有180个pin的数 ...

处理数据这一块没关注，量产的时候，数据量庞大，人工处理肯定不可取，建议编一些小代码，提取特征数据

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