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射频芯片技术线上研讨会(11月24日直播 报名 免费)

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发表于 2022-11-7 15:23:55 | 显示全部楼层 |阅读模式

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网络研讨会

如何实现全自动化射频集成电路的
全特性分析测试
11月24日 10:00-11:00


传统的射频测试系统存在很多的缺陷,如测试流程繁琐、灵活性差、资源浪费问题严重等,使射频测试效率受到了影响。随着自动化技术的发展,它开始应用在射频测试系统中,这有利于实现自动测试,从而降低人力的投入,并可根据实际需要进行自动切换,能有效提高资源利用率、降低测试成本、保障测试效果。
在本次网络研讨会中,罗德与施瓦茨邀请孤波科技的技术专家,与您共同分享:

  • R&S测试仪器及半导体芯片测试专用自动化软件平台介绍;
  • RFIC 测试中常用的测试Test IP;
  • 如何利用自动化测试软件为设计验证提供快速反馈;
  • 如何实现全自动化的RFIC 的全特性分析测试( Full Char), 并且生成详细的 Full char报告。



                               
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发表于 2022-11-8 08:50:39 | 显示全部楼层
以报名
 楼主| 发表于 2022-11-8 10:40:17 | 显示全部楼层
发表于 2022-11-10 19:11:40 | 显示全部楼层
已报名,谢谢分享
发表于 2022-11-22 23:05:16 | 显示全部楼层
已经报名
发表于 2022-11-22 23:32:51 来自手机 | 显示全部楼层
报名参观下
发表于 2022-12-1 13:40:02 | 显示全部楼层
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