芯片内的待测点通过大电阻连接到测试点

Dirby

在看别人设计的电路图时发现待测点的电压通过一个大电阻连接到测试点，考虑可能的原因是减缓外部电压突变对待测点电压造成的影响。
如待测点为MOS管的栅压，当外部测试点突然有电压或者电流突变时，如果没有大电阻，该突变将直接作用于MOS栅压。而有大电阻后，可以起到一定的缓冲作用。