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发表于 2022-6-7 22:14:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 shake2004 于 2022-6-7 22:17 编辑

1、Mission Profiles derived from lifetests and field return data using inverse problem theory,Zhongning Liang; Ramun M. Kho,2014 IEEE International Reliability Physics Symposium2、Determination of the stress level for voltage screen of integrated circuits,Ramun M Kho,September 2010Microelectronics Reliability 50(9-11):1210-1214 [size=0.875]DOI:10.1016/j.microrel.2010.07.103
3、Validating Foundry Technologies for Extended Mission Profiles,K. van DijkJune 2010IEEE XploreConference: Reliability Physics Symposium (IRPS), 2010 IEEE International
4、Control charts in semiconductor manufacturing,Ramun M KhoJanuary 2003Conference: ENBIS3 / ISIS3 conferenceAt: Barcelona, Spain Project: Statistical Process Control



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