差分放大器芯片测试

CQUPT幸运

我在测试运放芯片的时候，输入端的mos管老是击穿，输入端连接的是管子的栅极，测试板上加了静电保护管，版图检查天线效应时也没问题，但还是击穿了，有没有大佬知道咋回事。

nanke

不能直接接栅极，至少要串个电阻，如果要求高可能还需要二次保护；天线效应大致指的是没有连续的金属用来积累电荷；但是除了metal走线，封装bonding线，pad，pin的引脚，pcb线都会积累静电的，pad的esd电路来不及卸放静电就击穿被保护电路了，pcb的保护管可能也没起到作用。有时候esd明明看起来已经做得足够了还容易损坏，说明有薄弱点，且保护得不够。特别是先进工艺更容易损坏。

billgolden

给的信息有点少，不好判断。