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今年2021年,定于8月12-13日在西安电子科技大学举办的MOS-AK 西安器件模型国际会议,在多方面沟通后,为大家带来一天的培训,日期为8月11日整天。培训课题是目前比较热门的III-V族器件GaN的射频微波电路相关的器件模型,选择GaN的主要原因基于其在制作耐高温的微波大功率方面,以及高速开关电路应用的优势。
GaN 射频/微波器件技术及 ASM-HEMT 模型的器件建模 GaN RF/Microwave Device Technology, and device modeling with ASM-HEMT model
演讲者介绍:(点击图片放大观看)
演讲内容:
9:00-12:00 GaN RF/Microwave Device Technology: 2 hours 30 mins + 30 mins (Q & A) GaN 射频/微波器件技术:2 小时30分钟+30分钟(问答)
GaN device operation -GaN 器件工作原理 GaN device fabrication flow-GaN 器件制作流程 GaN HEMT device design process and the device design tradeoffs -GaN-HEMT 器件设计过程与 器件设计权衡 Emerging GaN device architectures -新兴 GaN 器件结构 o Self-aligned GaN devices for W-band and G-band applications -用于 W 波段和 G 波段 的自对准工艺的 GaN 器件 o Superlattice castellated three-dimensional GaN for best-in-class GaN switches-最佳 GaN 开关的超晶格蜂窝三维 GaN 器件
13:30-16:30 GaN Non-linear Device Modeling with ASM-HEMT: 2 hours 30 mins + 30 mins (Q & A) 基于ASM-HEMT 的GaN 非线性器件建模:2 小时30 分钟+30分钟(问答)
ASM-HEMT Model overview-ASM-HEMT 模型概述 I-V modeling with ASM-HEMT-基于 ASM-HEMT 的 I-V 建模 Non-linear large signal modeling flow with ASM-HEMT model-基于 ASM-HEMT 模型的非线性 大信号建模流程 o De-embedding methods for accurate modeling-精确建模的去嵌方法 o Small-signal modeling with ASM-HEMT-基于 ASM-HEMT 的小信号建模 o Large signal modeling with ASM-HEMT-基于 ASM-HEMT 的大信号建模 Trapping effects in GaN HEMTs and their modeling with ASM-HEMT-陷阱效应及使用 ASM- HEMT 模拟在 GaN HEMT 器件中的体现 GaN power amplifier circuits-GaN 功率放大电路 o Non-linearity, AM/PM nonlinearity analysis -非线性,AM/PM 非线性电路分析 o Importance of accurate field-plate modeling in GaN HEMTs- 场板精确建模在 GaN- HEMTs 中的重要性 Circuit-Device Co-optimization with ASM-HEMT for optimal performance -基于 ASM-HEMT 的电路器件协同优化
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