用JTAG配置IO pad测试问题求助

zhang5966180 · 发表于 2021-1-18 11:21:51

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背景：项目需要对IOpad的IIL/IIH进行测试，利用JTAG的IR和DR指令配置IO pad为input，通过仿真确认IO配置没有问题。产生pattern后上机测试，发现很多IO的IIH/IIL很高，为mA级别（应为nA级别）。通过CV同事帮助，用FPGA和板子复现测试状况，发现JTAG打进去的值没有出错，但是测电流就是会出现如上情况，怀疑JTAG的指令被覆盖掉。

请教：各位大神有没有遇到过这种情况啊，有什么可能的因素会导致这样么。

谢谢

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