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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）
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楼主: zylxzxcyz

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）

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haidong132
发表于 2023-8-4 22:53:49 | 显示全部楼层
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cai52864
发表于 2023-8-13 23:19:37 | 显示全部楼层
谢谢樓主分享
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LDZ2011
发表于 2023-9-11 19:13:41 | 显示全部楼层
谢谢分享。好书
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mmmmmr77777
发表于 2023-9-24 16:07:46 | 显示全部楼层
为什么下载了打不开啊
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发表于 2023-9-26 10:34:47 | 显示全部楼层
深度专业内容全面，实战性强，很有指导意义，学习学习
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mmmmmr77777
发表于 2023-9-26 17:25:12 | 显示全部楼层
这次应该可以了吧呜呜
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mmmmmr77777
发表于 2023-9-26 17:26:19 | 显示全部楼层
我来啦！！！！！
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gammer123
发表于 2023-10-16 14:43:29 | 显示全部楼层
感谢分享
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cmmjava
发表于 2023-10-21 04:06:09 | 显示全部楼层
感谢分享
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cmmjava
发表于 2023-10-21 04:07:34 | 显示全部楼层
感谢分享
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