DFTC scan insertion 报告 clock gating cell 上有violation

zhh124 · 发表于 2018-2-24 11:07:40

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用DFT compiler 做scan insertion后，dft drc 报出来 clock gating 上有violation：
  Sequential Cell Report
  9 out of 84 sequential cells have violations
-----------------------------------------------------------------
SEQUENTIAL CELLS WITH VIOLATIONS
   * 9 cells are clock gating cells
      clk_gate_SPI_DATA_Reg_4_reg/latch
      clk_gate_SPI_DATA_Reg_3_reg/latch

对应的逻辑如下：
  SDFFRPQX1 SPI_CR_2_reg_7_ ( .D(PWDATA[7]), .SI(SPI_CR_2[6]),
      .SE(SCAN_ENABLE), .CK(net1324), .R(n134), .Q(SPI_CR_2[7]) );

  SNPS_CLOCK_GATE_HIGH_APB_SLAVE_3 clk_gate_SPI_CR_2_reg ( .CLK(PCLK), .EN(N84), .ENCLK(net1324), .TE(SCAN_ENABLE) );

看起来scan dff 的clock pin 上并没有加bypass mux，这是什么原因？

fangwang85 · 发表于 2018-9-5 16:31:12

回复 1# zhh124

大神，遇到同样的问题，请问怎么解决的？

reptilian99 · 发表于 2018-9-6 00:57:30

interesting

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