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一般来说,对于长沟道,可以用平方率公式计算MOS管的参数,结果与仿真结果相比应该相差不大,我用2um的工艺去验证(以nmos为例),从工艺库中提取u0,tox,并根据tox计算得到cox,kn=uo*cox,发现通过仿真后在.lis文件中提取gm,id,结合W,L的值,当然mos管工作在饱和区的,通过平方率公式gm=(2Kn*W/L*id)^(1/2)来反推Kn值,两者有较大偏差。另外,我通过改变W的值,发现根据gm=(2Kn*W/L*id)^(1/2)反推得到的kn值也有较大变化,对于长沟道,这不应该啊?还有,.lis文件中的beta是uo*cox*W/L的吧,由前面算得的kn也不和beta/(w/l)的值相等啊!求各位路过的指点指点,在这里感谢各位了! |
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