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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › SCAN 详细介绍
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楼主: bambooyuyu

[资料] SCAN 详细介绍

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toobad123
发表于 2015-7-14 16:44:02 | 显示全部楼层
好东西啊，谢谢
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sulilittle
发表于 2015-7-16 16:40:52 | 显示全部楼层
学习～
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Youacool
发表于 2015-7-21 22:14:12 | 显示全部楼层
谢谢分享
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clslhy
发表于 2015-9-8 17:46:23 | 显示全部楼层
duoxiefenxiang
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chengbaibai
发表于 2015-9-20 08:37:10 | 显示全部楼层
很好 学学
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yangweijlu
发表于 2015-9-22 14:26:32 | 显示全部楼层
介绍的不错，学习中
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datouyu451
发表于 2015-11-9 22:53:17 | 显示全部楼层
看看有几成货
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tamatoes2005
发表于 2015-11-11 21:41:48 | 显示全部楼层
回复 1# bambooyuyu


   先下来看看再说
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mindy_xj
发表于 2015-11-12 11:11:31 | 显示全部楼层
这边文章是对dft的简单测试，可以简单了解下
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wayneruby
发表于 2015-11-21 23:58:56 | 显示全部楼层
學習一下，謝謝分享
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