EEPROM 可测试性设计 MBIST

zhangjirong · 发表于 2014-3-3 09:23:32

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我知道对于RAM、ROM可以使用MBIST进行自测试设计，那么对于EEPROM、FLASH等，能不能如同RAM、ROM一样，设计与之对应的MBIST电路，进行自测试呢？我觉得是可以的，因为EEPROM和FLASH与RAM、ROM一样，属于memory，其测试方法也是按不同的方式写入不同的数据，然后读出，比较是否一致。但是，在网上找不到关于EEPROM和FLASH的可测试性设计方法，在此请教。