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[讨论] 高速差分线打孔换层的问题

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发表于 2014-2-18 18:22:21 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Intel 的design guide都建议高速的差分线(比如PCIE,SATA...)走线如果换层的话,都要在源端或者末端打孔换层,请问是什么原因呢?我觉得在两端换层或者在中间换层应该没有什么差别啊,都是阻抗不连续的点啊,难道说两端的孔对于信号的影响比中间的孔要小?求解...
发表于 2014-2-19 21:20:29 | 显示全部楼层
一般来说过孔很难优化到100欧姆,而芯片端的阻抗一般由于焊盘本身的容性也会小于50欧姆,这样在源端或末端,过孔和芯片焊盘端阻抗看上去更连续些,整个连路不连续点实际上要小些,对整体SI更优.
发表于 2014-4-7 12:38:14 | 显示全部楼层
确实,按道理来讲的话,via在任何地方都应该是一样的影响,但是如果考虑到反射时间问题,信号刚出来,阻抗就变化,然后反射会源端,这段时间与上升时间做比较,如果较小的话,就影响不大。
发表于 2014-4-7 12:55:46 | 显示全部楼层
学习来了
发表于 2014-4-8 09:07:50 | 显示全部楼层
減少反射會破壞波形
发表于 2014-5-27 11:04:28 | 显示全部楼层
学习学习学习
发表于 2014-5-29 11:59:17 | 显示全部楼层
这是考虑到阻抗不匹配所导致的反射。楼主可以尝试做两种仿真来验证,那个情况的波形会更差一些。
发表于 2014-10-2 16:23:25 | 显示全部楼层
学到了,谢谢
发表于 2014-10-14 22:24:17 | 显示全部楼层
又长见识了
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