在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 3009|回复: 7

关于微处理器的测试大家讨论一下吧

[复制链接]
发表于 2007-3-11 10:56:26 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
始终没有想到有什么好的测试验证的方法阿
 楼主| 发表于 2007-3-12 21:51:47 | 显示全部楼层
我们目前的测试是这样的:
用c或者汇编写测试程序,编译生成相应架构的二进制代码,用搭建好的testbench将二进制代码
读进到存储器模型中,处理器执行存储器模型中存储的代码。其中有结果反馈以及错误输出。
目前的困惑是:测试程序都是根据一般功能,以及设计人员想到的corner case来进行编写
做不到覆盖率驱动随机测试这种测试,可能会有很多错误发现不了。而如果用随机生成序列
指令的执行不像数据处理,会有很多麻烦的地方。
不知道版上是否有人做过微处理器测试方面的工作,可以交流一下么
发表于 2007-3-15 23:47:27 | 显示全部楼层
谢谢呀!!!!
发表于 2007-5-15 22:37:45 | 显示全部楼层
小弟也在接触测试程序的编写,以前没有接触过比较迷茫,有没有大侠出来分享一些经验。不胜感激!!
发表于 2007-5-16 00:05:12 | 显示全部楼层
给些建议:
1.直接测试,覆盖所有的汇编指令,寄存器和寻指方法
2.随机指令测试,对指令测试做约束,可以控制产生的范围。
3.直接测试结合随机指令测试
4.如果有条件,可以编写和使用处理器的C model,C model和RTL仿真结果比较,进行自动化测试。
发表于 2007-5-17 17:05:10 | 显示全部楼层
能介绍一下大概流程吗?让我有个具体的概念,谢谢!

[ 本帖最后由 zw_beyond 于 2007-5-17 18:46 编辑 ]
发表于 2007-5-24 19:38:42 | 显示全部楼层
我觉得写C测试恐怕非常不方便,如果一条指令出错了你还要找到底是那条,找到了估计n多时间已经过去了~
所以我觉得直接写汇编测试比较好。
发表于 2007-6-19 10:38:56 | 显示全部楼层
不了解.....
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 13:17 , Processed in 0.071229 second(s), 9 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表