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[求助] DFT/Mentor/Testkompress/ATPG violation D5 问题求教

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发表于 2013-8-9 16:32:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

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开始atpg阶段前DRC结果发现D5 vio有很多!具体是发现很多本应该是scan cell 但在shift/capture阶段被认为是non-scan cell,状态不可控
DFTVisualizer打开分析,比如看到一个D5的位置是一个标准的scan chain上的cell,它在shift模式下scan in data居然是X,于是我trace这个x,最后发现是从scan input(PI)来的。我觉得很冤啊有没有,我可能做错什么工具为什么会这样呢?

所有chain的trace都是通的,pattern也仍然可以生成,但是只在92%左右。

有人遇到类似问题吗?
发表于 2013-8-24 00:22:40 | 显示全部楼层
1.检查下dofile中 有没有对应的 add scan chain 命令,告诉工具你这些寄存器组成了一条scan 链?
2.是不是设置中 mask 掉了这条scan 链?
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