How to test device for Latch-up in Practise ?

yansuanxiti · 发表于 2013-6-9 11:21:41

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客户要求进行芯片闩锁效应的测试，没有做过，原理大概知道，但没有ATE测试的经验，
请问版上有高人实际做过的么？求指点，在ATE上测试的方法(平台如 UltraFLEX, A93000, T2000...)，或者单独专用仪器测试的方法？
致谢。。。

yansuanxiti · 发表于 2013-6-14 09:20:08

凉了，热一热，

zhukh · 发表于 2013-6-21 12:43:03

Please refer to the LU test standard-JEDEC78.
Almost all the ESD test system can do latch-up test

yansuanxiti · 发表于 2013-6-22 13:21:10

回复 3# lyfztz

谢谢你提供的信息，具体测试再请教您！

yansuanxiti · 发表于 2013-6-22 13:24:45

回复 4# zhukh
文档下载了，看看再说，谢谢提供信息，我以前听人说什么GiDEC标准，原来是这个协会啊，好搓居然不知道，在下是做DFT的

qwertyu6140 · 发表于 2020-7-17 15:04:39

HAWAN LATCHUP /HBM TESTER CAN TEST THIS

[求助] How to test device for Latch-up in Practise ?