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查看: 3177|回复: 4

[原创] 建议将芯片测试单独开一个版面

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发表于 2013-6-8 16:07:02 | 显示全部楼层 |阅读模式

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目前将测试与验证放在一个版面,这两者差别太大了,放在一起实在有点莫名其妙,我建议新开一个版面,内容涵盖DFT与ATE测试,大家以为如何?
发表于 2013-7-10 21:15:10 | 显示全部楼层
这个可以有
发表于 2014-6-23 07:16:47 | 显示全部楼层
非常同意版主的建议,验证与测试很不同。我现在就遇到了问题,模拟电路,版图验证一点问题都没有,DRC LVS全过,但是测试就是不对,连最基本的shift register输出和输入都不一致,所以我怀疑可能是内部出现短路问题。但是为什么会这样,并且可能的原因分析,却不是很清楚,一直在困扰。所以如果有一个单独板块,大家一起来讨论遇到的测试问题,那么这些经验都会是非常宝贵的。尤其是测试,只有测过的人才知道问题出在哪儿,看书用处不大,经验最重要啊。
发表于 2014-6-23 07:17:44 | 显示全部楼层
并且建议模拟与数字板块可以并行,这样非常清晰。
发表于 2014-7-29 13:35:01 | 显示全部楼层
建议很好。
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