SCAN 的测试和DEBUG

Leohuang891106 · 发表于 2013-3-1 10:05:21

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项目是个SOC的芯片，想问下，既然SCAN的pattern是由工具TetraMax生成的，为什么在cp 测试时会FAIL，但也不是全部FAIL，只是有部分PIN不符合pattern，大部分的pin还是可以过，根据测试机台实际的测试输出，该如何去debug，现在是一头雾水，望指点。

Syn2012 · 发表于 2013-3-3 11:06:08

同问！

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